伊諾斯Innov-X Systems 新推出的移動(dòng)式X系列礦石分析儀，功能強(qiáng)大，便于攜帶，是同類分析儀的基準(zhǔn)。X系列儀器采用10W，50Kv的射線管，超大探測面的探測器，多種分析模式，6個(gè)光束濾波器，是目前市場上功能最強(qiáng)大的移動(dòng)式分析儀。這款儀器的硬件配置特別適合 La, Ce,Pr, Nd, Pm,& Sm等稀有元素及其它探測元素如，Y，Ba,Nb,Ta & Zr的分析。同時(shí)也很適合測Mg, Al, Si P, S, K & Ca等輕元素。
Innov-X X系列礦石分析儀系統(tǒng)規(guī)格：
尺寸 | 外形尺寸：328x280x380mm； 展開尺寸：328x690x460mm； 樣品室尺寸：287x145x114mm； |
重量 | 26lbs；11Kg |
環(huán)境要求 | 環(huán)境濕度0~95%；環(huán)境工作溫度-20℃~50℃；亮黃 |
激發(fā)源 | 0~50kV多段可選擇的電壓；200uA |
探測器 | 有SI-PIN；SDD；等不同的探測器可選擇 |
冷卻系統(tǒng) | 采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng)，探測器在-35℃下工作，保證儀器 |
濾波器 | 6個(gè)濾波片可自動(dòng)切換 |
電壓、電流 | 電壓15~40kv,電流可達(dá)200uA |
電力要求 | 10~240VAC；50~60Hz, 最小電力100W |
主機(jī)供電系統(tǒng) | 10~240VAC；50~60Hz交流電； 鋰電池組、適配器，適配器DC輸出16.4V 3A（可選項(xiàng)) |
顯示器 | 整機(jī)一體化設(shè)計(jì)，工業(yè)級(jí)高分辨率TFT 觸摸顯示彩屏10英寸，分辨率800*600 |
顯示器固定方式 | 一體機(jī)設(shè)計(jì),整機(jī)連體構(gòu)造，可防塵,防霧,防水,極大的降低了故障率 |
數(shù)據(jù)顯示 | 百分比%和ppm顯示元素含量，動(dòng)態(tài)顯示，元素可排序 |
數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 內(nèi)存504M，硬盤18.6G |
處理器CPU | Intel Pentium CPU,Processor 1.40Ghz，RAM504M |
操作系統(tǒng) | Microsoft Windows XP ,SP2
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Innov-X X系列礦石分析儀用途：
Innov-X X系列礦石分析儀模式與元素：
可分析從鎂礦（Mg）到鈾礦（U）之間的83種金屬礦、非金屬礦、貴重金屬礦、稀有金屬礦等自然礦，分析范圍從PPM到100%
Innov-X X系列礦石分析儀應(yīng)用界面：
Innov-X X系列礦石分析儀技術(shù)性能：
1.采用10W，50Kv的射線管，具有實(shí)驗(yàn)室的精度，是目前世面上功能最強(qiáng)大的移動(dòng)式分析儀。
2.采用多光束技術(shù)，使重金屬元素、過渡元素、輕質(zhì)元素的分析效果達(dá)到最佳 只需直接接觸待測物表面，即可現(xiàn)場確定礦石等級(jí)、元素鑒定。
3.可以檢測的樣品如礦石、巖石、巖芯、礦渣、碎片；土壤、 泥土、泥漿、粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層；廢水、廢油、等等的固體、液體物質(zhì)。
4.可添加并很好地測試貴重金屬元素Au、Pt、Ag、Ru、Rh、Pd稀有元素La、Ce、Pr、Nd、Pm、Sm等的現(xiàn)場移動(dòng)式分析儀。
5.工業(yè)級(jí)觸摸式高清高分辨率彩色TFT觸摸屏、電腦、儀器一體化密封設(shè)計(jì)，有很好的三防性能，可承受惡劣的工作環(huán)境。密封的儀器可在雨天、塵土飛揚(yáng)的室外環(huán)境中長時(shí)間穩(wěn)定工作。
6.真正實(shí)現(xiàn)了現(xiàn)場快速、準(zhǔn)確的檢測，直接顯示元素的ppm含量與百分比含量。
7.儀器內(nèi)置風(fēng)扇，散熱性好，根本性解決XRF儀器存在的散熱問題。
8.采用Windows XP SP2操作系統(tǒng)，可外接USB、鼠標(biāo)、鍵盤、打印、INTERNET等通用外設(shè)，具有良好的兼容性。
9.超大規(guī)模的存儲(chǔ)系統(tǒng)，內(nèi)存504M，硬盤18.6G可存儲(chǔ)數(shù)據(jù)高達(dá)86萬組數(shù)據(jù)及圖譜。
10.具有自動(dòng)校準(zhǔn)、診斷、故障報(bào)告功能，可通過INTERNET遠(yuǎn)程診斷機(jī)器故障與軟件升級(jí)
Innov-X X系列礦石分析儀LOD
測試樣品為勻質(zhì)SiO ,無干擾元素，測試時(shí)間為120秒，LOD值單位為PPM；
多段電壓、單段電壓與不同元素的LOD的關(guān)系表明多段電壓可以對不同的元素有很好的LOD下圖為X-5000對SiO2 的120秒檢測結(jié)果。
Innov-X X系列礦石分析儀：
1. 模式：Soil（3 Beam）、Mining、 2 Beam Mining
2. 硅漂移SDD探測器（Si drift）
3. 10W X射線管
4. 能測試Mg、Al、Si、P、S…