奧林巴斯的X射線熒光（XRF）分析儀具有很高的分析性能，可以實時提供地球化學數(shù)據(jù)，從而有助于用戶快速確定土壤、巖石和礦石的多元素特性。XRF技術的最新發(fā)展，增加了可測元素的數(shù)量，改進了檢出限，并降低了檢測時間。
Vanta XRF分析儀在金礦上和金礦實驗室中，可以快速方便地測量與黃金勘探相關的很多種類的樣本，而且還可以對精煉黃金產(chǎn)品進行快速準確的分析。
優(yōu)勢特性
通過對土壤、鉆屑和鉆芯中的探途元素進行XRF分析，可以快速發(fā)現(xiàn)潛在的金元素礦化的情況。
使用XRF分析儀對樣本進行預先篩選，可以獲得優(yōu)選樣本，合理使用分析經(jīng)費，以及更準確地確定鉆井的區(qū)域。
通過XRF技術繪制結構特性的映射圖，并識別礦化蝕變區(qū)域，可以使用戶更好地了解礦床，并有助于成功完成建模和定向工作。由于減少了稀釋方式的使用，因此可以獲得更好的金采收量。
在巖石地球化學應用中使用XRF技術，可以迅速、經(jīng)濟地為巖石進行分類。
探途元素和蝕變地球化學
大多數(shù)金礦床都有其特定的地球化學特征（如上表所示）。XRF分析儀可以探測到這些地球化學特征，從而可使地質(zhì)學家更清楚地了解他們正在勘查的地質(zhì)系統(tǒng)。典型的金探途元素包含As、Cu、Pb、Zn、Sb、Bi、Ag和W。
*每個光束120秒的檢測時間，無干擾的二氧化硅基質(zhì)；請參閱奧林巴斯有關檢出限的文件，了解有關更低檢出限的詳細探討說明。
用于探測金元素的XRF分析儀
眾所周知，手持式XRF分析儀不能對地質(zhì)樣本中低含量的金元素進行直接檢測（如：低ppm和ppb值）。基于實驗室的火試金法被普遍認為是分析金元素的首選方法。金元素的L線處于X射線熒光能量頻譜的非常擁擠的區(qū)域。在頻譜的這個區(qū)域中，來自其它元素（如：As, Zn, W和Se）的干擾，會使分析儀得出錯誤的金元素存在的判斷。
不過，在某些特定的情況下，如：高品位的（> 5 ppm）石英脈環(huán)境（相對來說沒有干擾）或在精煉的金產(chǎn)品中（金元素有很高的含量），可以使用XRF分析儀對金元素進行直接檢測。
金礦上越來越多的實驗室正在使用XRF技術替代或補充火試金法，對礦石進行分析。請參閱奧林巴斯應用注釋“在金礦實驗室中使用手持式XRF分析儀”。在礦山上，工作人員也會使用奧林巴斯手持式XRF分析儀檢測活性炭中的金元素。
圖像由Arne等提供（2014） – 在金元素勘探中對來自手持式XRF分析儀的資產(chǎn)規(guī)模數(shù)據(jù)的使用 – 優(yōu)勢和局限性，地球化學：勘探，環(huán)境，分析。
來自加拿大的金元素勘探項目，XRF分析儀在野外繪制的表面土壤中As、Cu和Pb元素等值線圖對比ICP分析。